分析藥片壓製缺陷問題|Altair EDEM

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分析藥片壓製缺陷問題|Altair EDEM
Apr.10,2024




 

以Altair EDEM分析藥片壓製缺陷問題


 

【 背 景 】

.......製藥產業中有超過75%的藥品其原料為微粒狀態,微粒粒子於壓製過程中呈現出複雜的力學行為,對環境溫度及濕度也很敏感。而藥片的小尺寸及設備的不透明,增加了試驗觀察的難度。Altair EDEM為藥片壓製的缺陷問題研究提供了全新解決方案,對製造過程能有更詳盡的觀察,更快速的將產品推向市場。

 

【 成 果 】

 

.......藉由Altair EDEM的分析,可得知壓製藥粉顆粒劑量、混合藥粉比例、藥片結構完整性、藥片厚度及緊實程度,並透過形狀觀察外觀完整性,是否產生崩角、凹坑、裂痕…等來預測藥片壓製缺陷。

 

 

【 技術特點 】
 

  • 於粒子尺度模擬藥片微粒力學行為。
  • 離散方法為DEM(Discrete Element Method)。
  • 可進行熱傳分析,解析溫度及濕度對藥片製程的影響。

 

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